Моделиране и изследване на надеждност в микроелектрониката
Изследователски теми:
Проектиране в микроелектрониката
Ръководител на научната група:
| Име: | Проф. Джуин Джей Лиу |
| Принадлежност - факултет, катедра: | Chair Professor and Director, Zhengzhou University, China |
| Изследователски теми: | Моделиране и изследване на надеждност в микроелектрониката – разработване на компактни модели за прогнозиране на надеждността в модерни полупроводникови устройства, базирани на силициеви FinFET, силициеви наножички и органични транзистори |
Екип
|
проф. д-р Марин Беров Маринов
0000-0001-6784-1056 |
|
доц. д-р Борислав Ганев
0000-0001-6784-1056 |
|
доц. д-р инж. Димитър Николов
0000-0002-2427-2583 |
|
доц. д-р инж. Росен Радонов
0000-0001-7635-513X |
|
Борис Добричков, докторант
0000-0002-7947-4879 |
|
Георги Савов, докторант
0000-0003-0924-8136 |
Copyright © 2025 ТУ-София - ЦИР