logo Лого на Европейски технологичен университет
  • Връзки с обществеността Връзки с обществеността
  • Контакти Контакти
  • Карта на сайта Карта на сайта
  • Вход Вход
  • Език English
  • Университетът
  • Обучение
  • Кандидатстване
  • Студенти
  • Научна дейност
  • Международна дейност
  • Кариера и възпитаници
faculties_present_img
Начало » Университетът » Факултети » Факултет по индустриални технологии » Лаборатории » НИЛ „Сканираща електронна микроскопия“
  • За лабораторията
  • Дейности
  • Проекти и партньори
  • Галерия

Дейности

Проведените наблюдения и анализи върху микро и нано структури, както и извършения ренгенов микроанализ на структурите са част от извършваната научноизследователска и експериментална работа на научна група „Нови материали и наноструктури” към направление „Виртуално инженерство и микротехнологии” с работна програма, насочена към изследването на структурата на микро/нано структурирани материали. Основните дейности, при които необходим и задължителен елемент е сканиращата електронна микроскопия (SЕМ) и рентгеновия микроанализ (EDS), извършвани в лабораторията, са изброени по-долу:

  • Технология за химично (безтоково) никелиране на микро/нано керамични частици, въглеродни влакна и нано тръбички;

  • Технология за създаване на дисперсно уякчени композитни материали на метална основа чрез леене и синтероване;

  • Технология за наваряване в защитна газова среда на износоустойчиви слоеве върху алуминиева матрица;

Scanning Electron Microscopy Lab_.jpg
Адрес:

Технически университет-София
София 1000,
бул."Кл. Охридски" 8

Блок: 8 Етаж: 1 Кабинет: 8004 

Ръководител:

проф. д-р инж. Валентин Камбуров
Имейл: vvk@tu-sofia.bg
Телефон: 02 965-3691
Кабинет: 3410

  • Развитие на АС
  • Годишник на ТУ-София
  • Кариера и възпитаници
  • Е-Университет
  • Връзки с обществеността
  • Научни форуми
  • Е-Публикации
  • Еразъм харта 2021-2027
  • E-mail
  • Медиите за нас
  • Оперативни програми
  • Научен електронен архив
  • Публични търгове
  • Е-mail Студенти
  • YouTube
  • СОПКОНИ
  • Издателство
  • Профил на купувача
  • Телефонен указател
  • Facebook

Copyright © 2025 ТУ-София - ЦИР