Начало » Университетът » Факултети » Факултет по индустриални технологии » Лаборатории » НИЛ „Сканираща електронна микроскопия“
Проведените наблюдения и анализи върху микро и нано структури, както и извършения ренгенов микроанализ на структурите са част от извършваната научноизследователска и експериментална работа на научна група „Нови материали и наноструктури” към направление „Виртуално инженерство и микротехнологии” с работна програма, насочена към изследването на структурата на микро/нано структурирани материали. Основните дейности, при които необходим и задължителен елемент е сканиращата електронна микроскопия (SЕМ) и рентгеновия микроанализ (EDS), извършвани в лабораторията, са изброени по-долу:
Технология за химично (безтоково) никелиране на микро/нано керамични частици, въглеродни влакна и нано тръбички;
Технология за създаване на дисперсно уякчени композитни материали на метална основа чрез леене и синтероване;
Технология за наваряване в защитна газова среда на износоустойчиви слоеве върху алуминиева матрица;
Технически университет-София
София 1000,
бул."Кл. Охридски" 8
Блок: 8 Етаж: 1 Кабинет: 8004
проф. д-р инж. Валентин КамбуровИмейл: vvk@tu-sofia.bgТелефон: 02 965-3691Кабинет: 3410
Copyright © 2024 ТУ-София - ЦИР