faculties_present_img

НИЛ „Сканираща електронна микроскопия“

Scanning Electron Microscopy Lab_.jpg

В лаборатория „Сканираща електронна микроскопия“ се изследват структурата и състава на микро-/наноструктурирани материали, чрез провеждане на изпитвания със сканираща електронна микроскопия и рентгенов енергийно дисперсионен микроанализ. Лабораторията е оборудвана със сканиращ електронен микроскоп (SEM), на фирмата „Carl Zeiss“ (EVO MA 10) с резолюция на изображенията от 5 nm и ускоряващо напрежение 30 kV. Към тази основна конфигурация на електронния микроскоп е вграден енергийно дисперсионен микро анализатор (EDS) система „Bruker“, увеличаваща значително функциите му.
С посочения микроскоп може да се извършват детайлни микро/нано структурни наблюдения, както и пълен качествен и количествен рентгенов микро анализ (от В до U) на структурните елементи на материалите. Апаратурата е програмно обезпечена да създава 3D изображения и извършва измервания на микро/нано структурни елементи.

 

Scanning Electron Microscopy Lab_.jpg
Адрес:

Технически университет-София
София 1000,
бул."Кл. Охридски" 8

Блок: 8 Етаж: 1 Кабинет: 8004 

Ръководител:

доц. д-р инж. Валентин Камбуров
Имейл: vvk@tu-sofia.bg
Телефон: 02 965-3691
Кабинет: 3410