logo Лого на Европейски технологичен университет
  • Връзки с обществеността Връзки с обществеността
  • Контакти Контакти
  • Карта на сайта Карта на сайта
  • Вход Вход
  • Език English
  • Университетът
  • Обучение
  • Кандидатстване
  • Студенти
  • Научна дейност
  • Международна дейност
  • Кариера и възпитаници
faculties_present_img
Начало » Събитие » Второ издание на ЗИМНО IT УЧИЛИЩЕ "Дизайн и приложение на съвременни микро и нано системи"
  • Новини
  • Събития

Второ издание на ЗИМНО IT УЧИЛИЩЕ "Дизайн и приложение на съвременни микро и нано системи"

30 November -1 г.

ECAD_SMARTCOM.jpg

ECAD лабораторията при Технически Университет  - София в партньорство със Смартком България АД организират ВТОРО ИЗДАНИЕ на ЗИМНО IT УЧИЛИЩЕ "Дизайн и приложение на съвременни микро и нано системи".

Начало: 22.02.2016 г. в часове удобни за участниците.
Уводната среща ще се проведе на 22.02.2016 г. от 13:00 ч. в лаборатория 1113.



 

КУРСЪТ ВКЛЮЧВА:
* устройство, принцип на действие, топология на MOSFET транзистор, RFCMOS технология;
* запознаване и практическа работа със система за проектиране на интегрални схеми Cadence IC;
* индивидуален проект, включващ проектиране на базова електронна схема (напр. генератор, усилвател или др.).

Курсът е безплатен за студентите от ФЕТТ, ФТК, ФКСУ и ФА от Технически Университет - София и Софийски Университет "Климент Охридски"!

На успешно завършилите курса ще бъде издаден сертификат и в зависимост от постигнатите резултати ще бъде предложен стаж или работа в Смартком-България АД.

Записване: ТУ София, лаборатория ECAD 1113, от 25.01.2016 до заемане на свободните места.







  • Развитие на АС
  • Годишник на ТУ-София
  • Кариера и възпитаници
  • Е-Университет
  • Връзки с обществеността
  • Научни форуми
  • Е-Публикации
  • Еразъм харта 2021-2027
  • E-mail
  • Медиите за нас
  • Оперативни програми
  • Научен електронен архив
  • Публични търгове
  • Е-mail Студенти
  • YouTube
  • СОПКОНИ
  • Издателство
  • Профил на купувача
  • Телефонен указател
  • Facebook

Copyright © 2023 ТУ-София - ЦИР